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高性能多通道全自動比表面積及孔隙度分析儀TriStar II 3020系列
2018-05-17
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TriStar II 3020為全自動三站式比表面積和孔隙度分析儀,性價比高。它在保證數(shù)據(jù)精度和強大的數(shù)據(jù)處理能力同時,大大加快了分析速度,可滿足大多數(shù)研究需求。TriStar II也同時提供氪氣選配,可進行低比表面測量。該儀器還提供多種分析方法和數(shù)據(jù)處理,用戶可根據(jù)需要選擇不同的計算數(shù)據(jù)。
比表面積和孔隙度是影響材料質(zhì)量和用途的兩個重要物理性質(zhì),因此準確測量以及控制這些參數(shù)非常重要。此外,這兩個性質(zhì)對材料研究也非常重要,它是了解天然材料形成、結(jié)構(gòu)、潛在應(yīng)用的非常關(guān)鍵參數(shù)。
TriStar II 系列
產(chǎn)品應(yīng)用
應(yīng)用筆記、文獻和參考書目
ASTM測試方法
體積小/眾多特點
三個分析站同時運行,但又相互獨立。 三站BET比表面積的測量可以在20分鐘內(nèi)完成。對于更多的樣品測試,四個TriStar可用一臺計算機控制。
氮氣測試比表面積最低可達0.01m
2
/g。TriStar II也可使用于氬氣、二氧化碳和非腐蝕性氣體如丁烷、甲烷或其他輕烴類。氪氣選配可測量低至0.001m
2
/g的比表面積。
標配的P0管可連續(xù)測量飽和壓力。飽和壓力可選擇輸入、連續(xù)測量或在樣品管中測量等方式獲得。
最大進氣增量功能和定進氣量功能,可在縮短分析時間的同時,避免“錯過”重要數(shù)據(jù)點。
自由空間可選擇測量、計算或手動輸入等方式,靈活性大,滿足不同樣品的不同需求。
增強的產(chǎn)品功能包括:視頻剪輯、計算機和TriStar之間的以太網(wǎng)通信、內(nèi)置電路測試和診斷的軟件、能
夠通過互聯(lián)網(wǎng)進行遠程診斷、可兼容舊型號TriStar及Gemini的數(shù)據(jù)。
2.75升,(可選配4L)大容量杜瓦瓶和超長樣品管,保證長時間分析測量。
可測量多達1000個數(shù)據(jù)點的等溫線,可分析得到足夠多的材料結(jié)構(gòu)信息。
基于Windows的控制軟件,具有強大的數(shù)據(jù)處理功能、SPC報告、等溫吸附熱等。
可選不同的樣品制備站,流動/真空加熱等多種方式選擇。
設(shè)計精美,體積小,使用方便
TriStar II:
TriStar II PLUS:
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