粒度分析儀器

動(dòng)態(tài)光散射（DLS）和Zeta電位
動(dòng)態(tài)光散射（DLS），也稱(chēng)為光子相關(guān)光譜法（PCS），是測(cè)量納米顆粒和大分子粒度分布的常用方法，分散在溶液中的微顆粒通常伴隨有布朗運(yùn)動(dòng)。顆粒小則運(yùn)動(dòng)快，顆粒大則運(yùn)動(dòng)慢。當(dāng)激光照射伴有布朗運(yùn)動(dòng)的顆粒時(shí)，散射光強(qiáng)會(huì)有對(duì)應(yīng)顆粒布朗運(yùn)動(dòng)的漲落?？赏ㄟ^(guò)對(duì)其產(chǎn)生的散射光斑進(jìn)行相關(guān)性的計(jì)算來(lái)獲得顆粒的粒度和粒徑分布。

在大多數(shù)情況下，膠體粒子帶有正電荷或負(fù)電荷。在外電場(chǎng)的作用下，粒子向其極性相反的方向移動(dòng)。顆粒在移動(dòng)過(guò)程中受激光照射，其散射光的多普勒頻移取決于電泳遷移率。結(jié)合外差系統(tǒng)和光子相關(guān)方法進(jìn)行相關(guān)函數(shù)的傅里葉變換（FFT）以得到多普勒頻譜，從而算出Zeta電位。

NanoPlus?  
納米粒度與Zeta電位儀

NanoPlus是獨(dú)特的利用光子相關(guān)光譜法和電泳光散射技術(shù)測(cè)量粒度、Zeta電位和分子量的儀器。該儀器結(jié)構(gòu)緊湊、易于使用、分析范圍廣、帶有交互式軟件和多個(gè)樣品池，滿足不同用戶的應(yīng)用。

• 三種型號(hào)可選：納米粒度儀、Zeta電位儀，納米粒度與Zeta電位儀
• 測(cè)量懸浮液樣品粒度范圍：0.1nm~12.3μm，濃度范圍0.00001%~40%

ASTM: E2490
ISO: 13321, 22412, 13099-2

空氣滲透法
控制空氣以一定的流速流過(guò)顆粒床層，SAS利用兩個(gè)壓力傳感器測(cè)量空氣通過(guò)床層前后的壓力變化，改變顆粒床層的高度和孔隙率，使用Kozeny-Carman方程計(jì)算顆粒的SSA和平均粒徑。

Micromeritics SAS Subsieve AutoSizer?  
全自動(dòng)費(fèi)氏粒徑測(cè)試儀

麥克儀器SAS全自動(dòng)費(fèi)氏粒徑測(cè)試儀，是由費(fèi)氏95粒徑儀（FSSS）發(fā)展和升級(jí)而來(lái)，空氣滲透技術(shù)是公認(rèn)的粉體樣品比表面積（SSA）測(cè)試技術(shù)。使用該技術(shù)測(cè)定的SSA數(shù)據(jù)已經(jīng)在多個(gè)行業(yè)廣泛使用，例如：藥物、金屬涂料、顏料和地質(zhì)等行業(yè)

• 粒徑范圍：0.2-75μm
• 設(shè)計(jì)生產(chǎn)費(fèi)氏粒度數(shù)據(jù)，保證數(shù)據(jù)一致性
• 安裝方便，實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)顯示

ASTM: B330, C721

電阻法

Elzone II ?  
電阻法顆粒計(jì)數(shù)與粒度分析儀

ElzoneⅡ顆粒計(jì)數(shù)與粒度分析儀采用電阻法這種有效的顆粒粒度表征技術(shù)，適用于同時(shí)分析具有不同光學(xué)性質(zhì)、密度、顏色和形狀的顆粒樣品可迅速、精確地檢測(cè)精細(xì)顆粒材料的尺寸、數(shù)目、濃度以及質(zhì)量。ElzoneⅡ被廣泛應(yīng)用于工業(yè)、生物、地質(zhì)等粒度大于0.4μm的顆粒，具有極高的準(zhǔn)確度和分辨率，操作非常簡(jiǎn)便。

• 測(cè)量范圍：0.4到266μm，有機(jī)或者無(wú)機(jī)材料
• 可使用不同的導(dǎo)電液，不需要輸入液體性質(zhì)參數(shù)
• 無(wú)需事先獲得材料性質(zhì)參數(shù)（密度、折射率等）
• 全自動(dòng)操作：?jiǎn)?dòng)、運(yùn)行、關(guān)閉、檢測(cè)并清除障礙物、沖洗和校準(zhǔn)
• CCD照相機(jī)可實(shí)時(shí)視頻顯示光圈

ASTM: C690, D4438, F577
ISO: 13319

X光沉降
沉降法是從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過(guò)對(duì)X-射線的吸收測(cè)量可以直接檢測(cè)分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度。測(cè)定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運(yùn)用Stokes方程來(lái)計(jì)算顆粒的等效球直徑。在這種情況

SediGraph III Plus ?  
全自動(dòng)X光沉降粒度分析儀

結(jié)合成熟的SediGraph分析技術(shù)，SediGraph III通過(guò)對(duì)X-射線的吸收測(cè)量可以直接檢測(cè)分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度，無(wú)需模型，儀器有很好的重復(fù)性、精確性和重現(xiàn)性。

• 粒度范圍：0.1到300μm
• 高精度X射線管，7年保修
• 可選的MasterTech 052自動(dòng)進(jìn)樣器進(jìn)行18個(gè)樣品的自動(dòng)分析

ASTM: B761, C958, C110
ISO: 13317-3

動(dòng)態(tài)圖像法

Particle Insight?  
全自動(dòng)粒形分析儀

Particle Insight是一款現(xiàn)代化的動(dòng)態(tài)圖像分析儀，對(duì)于那些不僅由于顆粒大小，并且也必須由顆粒形狀來(lái)確定原材料性能的應(yīng)用，Particle Insight是理想的工具。

• 三種型號(hào)-1到150μm, 3到300μm, 10到800μm
• 具有獨(dú)特的光學(xué)、高幀頻、高分辨率的攝像頭，使數(shù)萬(wàn)的顆粒分析能在幾秒內(nèi)完成。所有形狀參數(shù)的數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示
• 30種尺寸/形狀參數(shù)可選，更精確的客戶控制
• 所有分析過(guò)的粒子都有縮略圖，用來(lái)篩選與察看指定形狀的顆粒。從單個(gè)粒子圖像捕獲參數(shù)，可用來(lái)監(jiān)測(cè)罕見(jiàn)顆粒
• 循環(huán)樣品模塊和類(lèi)似激光衍射系統(tǒng)的光學(xué)系統(tǒng)能夠在徆短的時(shí)間內(nèi)統(tǒng)計(jì)有效測(cè)量。標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)適用于水相和有機(jī)液體
• 適用于水或有機(jī)溶液

ISO: 13322-2

靜態(tài)光散射
顆粒的大小可以通過(guò)散射光來(lái)測(cè)定，根據(jù)光散射原理，我們通過(guò)在實(shí)驗(yàn)中在不同角度接收到的光強(qiáng)可以用Mie或Fraunhofer理論來(lái)計(jì)算顆粒的粒徑。

Saturn DigiSizer II ?  
全自動(dòng)高分辨率激光粒度儀

采用航天級(jí)的電荷耦合器CCD技術(shù)和超過(guò)三百萬(wàn)個(gè)檢測(cè)器保證儀器獲得極高的分辨率和完美的數(shù)字化散射圖樣以獲得極高重現(xiàn)性的結(jié)果，即使對(duì)于復(fù)雜材料也可以獲得高分辨率的結(jié)果。

• CCD檢測(cè)器提供40納米到2.5毫米范圍內(nèi)高分辨率檢測(cè)
• 測(cè)試速度快，高重現(xiàn)性試驗(yàn)數(shù)據(jù)
• 自動(dòng)進(jìn)樣器可完成自動(dòng)采樣、稀釋和分散樣品

ASTM: B822, C1070, D4464
ISO: 13320